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IC测试原理

资料介绍
ic设计时的基本方法及测试基本原理

IC测试原理解析


发射器测试基础 

如图1所示,数字通信系统发射器由以下几个部分构成: 

* CODEC(编码/解码器) 

* 符号编码 

* 基带滤波器(FIR) 

* IQ调制 

* 上变频器(Upconverter) 

* 功率放大器 

CODEC使用数字信号处理方法(DSP)来编码声音信号,以进行数据压缩。它还完成其它一
些功能,包括卷积编码和交织编码。卷积编码复制每个输入位,用这些冗余位来进行错
误校验并增加了编码增益。交织编码能让码位错误分布比较均匀,从而使得错误校验的
效率更高。 

符号编码把数据和信息转化为I/Q信号,并把符号定义成某个特定的调制格式。基带滤波
和调制整形滤波器通过修整I/Q调制信号的陡峭边沿来提高带宽的使用效率。 

IQ调制器使得I/Q信号相互正交(积分意义上),因此它们之间不会相互干扰。IQ调制器的
输出为是IQ信号的组合,就是一个单一的中频信号。该中频信号经过上变频器转换为射
频信号后,再通过放大后进行发射。 
[pic]
 
Figure 1. 通用数字通信系统发射器的简单模块图
 


先进的数字信号处理和专用应用芯片技术提高了数字系统的集成度。现在一块单一的芯
片就集成了从ADC转换到中频调制输出的大部分功能。因此,模块级和芯片级的射频测试
点会减少很多,发射器系统级和天线端的测试和故障分析就变得更加重要。 

发射器的主要测试内容 

信道内测试 

* 信道内测试采用时分复用或者码分复用的方法来测试无线数字电路。复用指的是频率
或者空间上的复用等。在时分多址(TDMA)技术中,一个信道可以定义为在一系列重复出
现的帧里面特定的频段和时隙,而在码分多址(CDMA)技术中,信道定义为特定的码段和
频段。信道内和信道外这两个术语指的是我们所感兴趣
IC测试原理
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